原位檢測
實時領略過程之美
原位檢測——在檢測儀器中實時捕捉由外部刺激(力電光熱磁等)引起的檢測對象相應物理/化學信號的變化。盟維芯片自主開發原位檢測芯片，將外部刺激引入到檢測儀器內，用于SEM、TEM、同步輻射等裝置，實時測量結果，捕捉動態過程。
說明：TEM中實時觀察鋰硫電池充電時電極材料的形貌變化
鍍膜剝離
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SEM電化學芯片
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產品編號
所屬分類
原位檢測
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產品描述
基本信息
產品名稱：GalVision-SEM
產品編號：ES
用途：應用于掃描電子顯微鏡(SEM)中的"微型電池"，具有雙電極結構，可封裝電解液，用于原位SEM觀測電化學反應過程中電極材料形貌變化。
規格參數
本款產品為密封式芯片，由上下兩片組成(觀測片和儲液片)。觀測片上觀測窗口兩側有2個電極，用以搭載不同的電極材料;儲液片(石英)中有凹 槽和2個注液孔，用以封片后注入電解液，與觀測片一起組成微型電池。具體參數見下表：
升級服務
本款芯片可提供金屬電極的蒸鍍(如：鋰、鋁、鎂、銅、金、鉑等)。另可根據用戶需求，定制特殊規格芯片，提供解決方案。
關鍵詞:
GalVision-SEM
上一個
無
下一個
SEM液體芯片
芯躍界限，洞悉瞬間！
—— 盟維芯片
